Testing for EMC compliance approaches and techniques

Bibliographic Details
Main Author: Montrose
Other Authors: Nakauchi
Format: Book
Language:English
Published: Hoboken, NJ John Wiley 2004.
Subjects:
LEADER 00826cam a2200217 a 4500
001 0000121530
005 20101223090000.0
008 031015s2004 njua b 001 0 eng
040 |a mod 
020 0 0 |a 047143308X (cloth) 
090 0 0 |a 621.382/24.22  |b MON  |c 2004 
100 1 0 |a Montrose  |h Mark I. 
245 1 0 |a Testing for EMC compliance  |b approaches and techniques  |c Mark I. Montrose, Edward M. Nakauchi. 
260 0 0 |a Hoboken, NJ  |b John Wiley  |c 2004. 
300 |a xviii, 460 p.  |b ill.  |c 24 cm. 
504 0 0 |a Includes bibliographical references (p. 447-451) and index. 
650 0 0 |a Electromagnetic interference. 
650 0 0 |a Electromagnetic compatibility. 
700 1 1 |a Nakauchi  |h Edward M. 
999 |a B003929  |b STRIDE  |d BOOKS  |e Umum  |f STRIDE  |j AVAILABLE  |q GOOD CONDITION 
999 |a B004864  |b STRIDE  |d BOOKS  |e Umum  |f STRIDE  |j AVAILABLE  |q GOOD CONDITION