Pengoptimuman sensor resonans plasmon permukaan berdasarkan Kretschmann dengan kaedah Taguchi

Dalam makalah ini, teknik reka bentuk uji kaji Taguchi telah digunakan untuk mengoptimumkan sensor SPR kromium (Cr)/perak (Ag)/indium timah oksida (ITO) untuk operasi berhampiran gelombang inframerah. Empat faktor yang dipilih termasuk panjang gelombang, ketebalan Cr, ketebalan Ag dan ketebalan ITO....

Full description

Bibliographic Details
Main Authors: Gan, Siew Mei, Najmiah Radiah Mohamad, Nur Akmar Jamil, Burhanuddin Yeop Majlis, P. Susthitha Menon
Format: Article
Language:English
Published: Penerbit Universiti Kebangsaan Malaysia 2018
Online Access:http://journalarticle.ukm.my/12527/
http://journalarticle.ukm.my/12527/
http://journalarticle.ukm.my/12527/1/33%20Gan%20Siew%20Mei.pdf
Description
Summary:Dalam makalah ini, teknik reka bentuk uji kaji Taguchi telah digunakan untuk mengoptimumkan sensor SPR kromium (Cr)/perak (Ag)/indium timah oksida (ITO) untuk operasi berhampiran gelombang inframerah. Empat faktor yang dipilih termasuk panjang gelombang, ketebalan Cr, ketebalan Ag dan ketebalan ITO. Kaedah perbezaan-terhingga-domain-masa (FDTD) digunakan untuk analisis berangka prestasi parameter pantulan minimum (Rmin) dan penuh-lebar-pada-separuh-maksimum (FWHM). Keputusan kajian yang diperoleh daripada kaedah Taguchi menunjukkan bahawa parameter yang dioptimumkan untuk Rmin adalah panjang gelombang (785 nm), Cr (1 nm), Ag (40 nm) dan ITO (20 nm). Manakala parameter yang dioptimumkan untuk FWHM adalah panjang gelombang (785 nm), Cr (0 nm), Ag (40 nm) dan ITO (0 nm). Dengan ini parameter optimum untuk mencapai prestasi sensor yang diingini berjaya diramal menggunakan kaedah pengoptimuman Taguchi.